INTEGRA ACADEMIA представляет собой основу нанолаборатории для проектной деятельности и обучения старшеклассников и студентов основам сканирующей зондовой микроскопии, включая выполнение лабораторных работ и исследовательских проектов в области нанотехнологий, физики, химии, биологии, медицины и др.
INTEGRA ACADEMIA поддерживает более 40 методик измерения, что позволяет анализировать топографию и физико-химические свойства поверхности с высокой точностью и разрешением. Юным исследователям доступны не только кремниевые кантилеверы, но и зондовые датчики из вольфрамовой проволоки, которые позволяют существенно снизить стоимость измерений.
Инструмент электрохимического отравления, позволяет затачивать вольфрамовые зонды из проволоки, что обеспечивает возможность самостоятельной подготовки зондов. Программное обеспечение, созданное для NTEGRA ACADEMIA позволяет реализовывать основные методики измерений с высокой наглядностью и интуитивно понятным интерфейсом. Электроника нового поколения обеспечивает работу в высокочастотных (до 5 МГц) режимах. Эта функция представляется основной для работы с высокочастотными режимами АСМ и использованием высокочастотных кантилеверов.
Сферы применения в образовании:
• Биология;
• Нанобиотехнологии;
• Наноматериалы и наноструктуры
• Материаловедение (Магнитные материалы, Полупроводники, Полимеры);
• Органические Пленки;
• Запоминающие среды;
• Нанообработка;
Методики «на воздухе» и «в жидкости»:
АСМ (контактная + полуконтактная + бесконтактная), латерально - силовая микроскопия, отображение фазы, модуляция силы, отображение адгезионных сил, литографии: АСМ (силовая)
Методики только «на воздухе»:
СТМ/ МСМ/ ЭСМ/ СЕМ/ метод зонда Кельвина/ отображение сопротивления растекания/ AFAM (по требованию)/Литографии: АСМ (Токовая), СТМ
